14.05.20

28.05.20

18.06.20

25.06.20

02.07.20

F2:       Ultrahochaufgelöste Rasterkraftmikroskopie mit funktionalisierten Spitzen

Z1:       Organische Spinfilter für Spintronik

F1:       Molekulare Maschinen

Sch1:  Nanoantennen für Licht

A1:       Flugzeit-Sekundärionen-Massenspektroskopie (ToF-SIMS)

A2:       Laser-Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie (Laser-SNMS) 

P1:       In-memory computing

P2:       Artificial Neural Network

Z2:       Time-Resolved Photoelectron Spectrocopy